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SFP2探针提高了表面表面测量能力

出现在印刷中:“探针增加表面表面测量能力”


Renishaw的SFP2表面饰面测量由五轴测量技术提供动力,并且可以自动与所有其他可用于Revo的探针选项互换。

雷尼沙的SFP2表面表面测量探针提高了Revo五轴测量系统的表面表面测量能力,该系统提供了多传感器功能,可在单个CMM上提供触摸触发,高速触觉扫描和非接触式视觉测量。

将表面饰面测量和对CMM的尺寸检查结合起来比需要单独过程的传统检查方法具有优势。该探测器的自动化表面饰面检查由五轴测量技术提供动力,可节省时间,减少零件处理和更大的CMM投资回报。

SFP2系统由一个探针和一系列模块组成,并且可以自动与所有其他可用于Revo的探针选项互换。这提供了选择最佳工具以检查同一CMM平台上的一系列功能的灵活性。来自多个传感器的数据自动引用了一个公共基准。

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