LK计量多传感器CMM检查复杂组件

LK Metrology的Altera CMM，SCANTEK 5，与Renishaw的Revo-2扫描系统和多传感器技术相结合，为制造商提供了一种用于检查精度和表面光度的五轴解决方案。机器具有扫描速度，速度快至每秒500 mm和可提供各种标准测量卷，范围从800×700×600毫米至6,000×2,000×1,000毫米。

据该公司称，手写笔在不留下零件表面的情况下，使能够每秒捕获4,000点的坐标。将扫描探针交换为其中一个视觉探针据说增加了数据收集速率，并且可以使用使用触觉方法获取的那些精确地相关结果。

另外，通过采用不同的尖端布置，根据该公司的说法，可以将详细的表面光洁度分析与单个操作中的其他测量相结合。可以检查甚至可以检查直径下达5毫米的细镗孔。各种变化架，长度为1米的长度，可用于容纳传感器，探针和STYLE，以在测量序列期间启用自动交换。